Scios 2 DualBeam 系统的技术创新,结合易于使用、面的 ThermoScientific AutoTEM ™ 4软件(可选)和***的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果,需要使用低能离子进行精抛,以大限度地减少样品的表面损伤。 Thermo Scientific Sidewinder ™ HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。ScientificTrinity ™ 检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取细的纳米级信息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的小特征。依托***的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。
产品料号 产品货号 *产品名称 *产品规格 TFE000048 TFE000048 Scios 2 DualBeam双束电镜 Scios 2 DualBeam
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