X一射线荧光分析仪
X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探侧移接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控侧作同步运动.不断地改变衍射角.便可获得祥品内各种无索所产生的特征X射线的波长及各个彼长X射线的强度.可以据此进行定性分析和定I分析.
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能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别
扫描电镜束流小,电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱准确一个数量级,电子探针元素面扫描可以用能谱,也可以用波谱,一般对轻元素(C以下),X荧光分析仪,波谱较准确,相对来说波谱扫描时间较长,一般定性及半定量基本用能谱。
能量色散X荧光光谱仪
性能优势:
1.采用行业较***的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率较高可达1000Wcps
2.采用大功率***管及***的准直滤光系统
优势:激发效率更高
3.光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
4.精密的定位系统超高清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点
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