直读光谱仪用于现在的各行各业中,很有的朋友会咨询,直读光谱仪和X荧光有什么区别呢?下面我们来为大家介绍一下直读光谱仪和X荧光的区别及光密度。
光谱仪检验标准说光密度即光吸收值,也叫吸光度。
指的某一物质或溶液对光的吸收程度,浓度越高,则对光的吸收越多,吸光度越大,在一定范围内吸光度和浓度成正比,常用于测量浓度。
(1) 刚开始用直读光谱仪分析的时候还是比较准,随着打的点多了,试样热了,数据就开始偏离了,尤其是碳元素.要清理直读光谱仪激发台,碳会下来不少。
(2) 当使用多次后,如果有反冲洗电流的,电极头会发生变化,激发条件也就改变了,造成你的C分析不准,应该经常清理。
A
直读光谱仪的校准如下:
描迹是对 直读光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。在此条件下可进行如下校准:
(1)、修改持久工作曲线法(修改标准化参数)
(2)、控样法;
(3)、类型标准化法。
B
(1).机械校准
(2).光学校准
(3).电气校准
(4).软件校准
C
我觉得校准应该是包括硬件校准和软件校准。
硬件包括狭缝校准、入射窗口清洁、负高压系统、光电转换等。这是仪器正常工作的先觉条件。
软件包括:完全标准化,类型标准化(控样校准)等。完全标准化是用于校正仪器的漂移而引起的工作曲线的变化。而控样校准可以修正样品冶炼方式与工作曲线(即与做工作曲线的标样的冶炼方式的差异)。
仪器的校准应先由硬件开始,然后才是软件。
X荧光光谱仪定性分析的使用方法X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 手持式X荧光光谱仪用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。 不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入,从而确定元素成份。 对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而确定是何种元素及成份。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出管靶材的特征x射线和强峰的伴随线,直读光谱仪,然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源、性质等元素,以便综合判断。直读光谱仪是固体金属材料分析领域灵敏准确的检测器,可满足金属光谱分析各种复杂要求,可分析材质:Fe、Al、Cu、Ni、Co、Ti、Zn、Mg、Pb、Sn等基体。当金属被能量激发时,根据力学理论,原子的壳层电子会被激发到较高能级的外层轨道上,处于不稳定状态。在一定条件下,它从高能级跃迁到低能级就会发出光子,发出特征谱线。各种元素都有不同的特征谱线,直读光谱仪,这些谱线经过光学系统进行分光,色散成按波长排序的一系列连续光谱,再经过光电转换元件把光信号直接转换为电信号。后计算机测量系统就可以通过计算某元素特征谱线的强度来确定元素的百分含量。
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