江苏一六仪器有限公司 镀层测厚检测 欢迎来电详询!
X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试,厚度的测量范围视材料和元素而定,通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法,具有无需对样品进行特别的化学处理、快速,方便,测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛,具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 一次性同时分析:23层镀层,24种元素
厚度di检出限:0.005um
性能优势
精密的三维移动平台
的样品观测系统
***的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,镀层测厚仪,方便放样
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
江苏一六仪器 能量色散X射线荧光光谱测厚仪
X射线的产生利用X射线管(图2),施加高电压以加速电子,使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。从设计上分为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种X射线管,都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。
X射线窗口,一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。
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