XRD物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,XRD物相分析检测哪里可以做,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
不能精修的原因与解决办法
选择精修命令后,有时会出现“Unable to Graft hkl’s to peaks”的提示。表明不能进行精修。其原因有两种:一是有些拟合的峰没有对应的(hkl)标记。例如,XRD物相分析检测服务,测量铁素体的5条线,但检索PDF卡片只有前3条线,3条衍射线不能进行精修。二是衍射峰位相对于“选定结构 (标准卡片)”的峰位偏离太多。
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原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息,由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试,因此得到的信息(无论是晶胞参数还是峰强度,还是其他的参数)都是具有相对可比性的。
而非原位XRD得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高,比如,极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态,材料测试的会产生高低变化,测到的XRD的峰会发生偏移,相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化;而不同极片活性材料质量和分布必然存在不同,这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。
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应力测量要注意的问题
●常规的X射线应力测试,只是对无粗晶和无织构的材料才有效,否则会给测试工作带来一定难度。
●对于非理想组织结构的材料,必须采用特殊的方法或手段来进行测试,XRD物相分析检测哪家好,但某些问题迄今未获得较为圆满的解决。
●如果晶粒粗大,各晶面族对应的德拜环则不连续,当探测器横扫过各个衍射环时,所测得衍射强度或大或小,衍射峰强度波动很大,依据这些衍射峰测得的应力值是不准确的。
●为使德拜环连续,获得满意的衍射峰形,必须增加参与衍射的晶粒数目。
●为此,对粗晶材料一般采用回摆法进行应力测量。目前的大多数衍射仪或应力仪,都具备回摆法的功能。
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