成像仪FLIR ONE PRO-新荣电子计测器-成像仪

电动环链提升机L系列日立产机HITACHI

电动环链提升机L系列，S系列，高速型F系列，单速型FH，双速型FNH，WT2 系列，热成像仪FLIR E8-XT，电动环链滑车Super F系列2型

产品介绍

电动环链提升机L系列

特征

提高耐用性

动力链

采用日立原创开发的特殊合金钢。该链条具有坚固的和坚硬的表面，具有出色的韧性和耐磨性。

连锁仓储

它由强化塑料制成，非常耐用，成像仪，可防止链条油渗出。（特殊高扬程等采用钢板制成。）

集成按钮电缆

采用日立原装按钮电缆，将电缆和保护线融为一体。提高了耐用性和可操作性。

提高安全性

限位开关

它不仅可以防止链条过度升高或降低，而且在出现链条缠结等不太可能发生的异常情况时也会启动，防止损坏主机。特别是起升侧设有操作回路和主回路双限位开关，增加了安全性。

电磁开关

所有型号都有机械联锁机构。防止同时输入。

按钮开关

采用全封闭塑料模型。工作电压保持在 24V 的低电压，以提高安全性。

改进的操控性

低噪音齿轮

由于采用斜齿轮，操作声音更加柔和。

底钩

配有一个防止球线脱落的塞子。此外，由于滚珠轴承的支撑，钩子可以轻松旋转，适用于移动设备的热成像仪，从而防止链条扭曲。

出口

采用插座，一键连接和断开。提高了可维护性。

新荣电子计测器SHIN-EI热成像仪FLIR ONE PRO

适用于移动设备的热成像仪 FLIR ONE PRO，紧凑型红外热成像仪FLIR C2C3，红外热成像仪 FLIR E4 [Wi-Fi]，FLIR E5-XT，FLIR E6-XT，FLIR E8-XT，FLIR E53，FLIR E75，FLIR E85，FLIR E95，FLIR T530，FLIR T540

产品介绍

紧凑型红外热成像仪 FLIR C2C3

MSX?功能（超精细竞赛功能）可以实时校正图像，轻松识别热屏上的结构和发热区域的细节。还可以使用数码相机模式同时拍摄，从而轻松生成具有相同视角的可见图像。

FLIR C2/C3 的特点

轻130克

国内全程维修

配备Wi-Fi功能（FLIR C3）

抗跌落冲击：2m（FLIR C3）

视频分析（使用 FLIR Tools 时）

兼容触摸屏

红外热成像 FLIR E4 [Wi-Fi]

特征

简单且多功能的热成像相机

[设备规格]

超精细对比度红外图像校正 (MSX?)

超精细对比度 (MSX) 实时将关键信息添加到来自机载可见光相机的整个红外图像中。其结果是一张具有完整数字、标签和其他结构特征的一体化热图像，成像仪FLIR ONE PRO，使您能够立即查明过热问题区域。

经济实惠的分辨率选项

从采用 320x240 探测器的 4，800 像素清晰热图像 (E4) 到 76，800 像素图像 (E8)，新型 FLIR Ex 系列可根据目标尺寸、工作距离和所需应用提供您所需的灵活性。热像仪的分辨率与您收到的信息水平和预算相匹配。

KURODA黑田精工Nanometro? TT 系列表面形状测量装置

超精密表面形状测量装置，Nanometro? TT 系列，Nanometro? 300PT，超精密平面度测量装置SF-640M，Nanometro? FR系列

产品介绍

NanoMetro TT系列是垂直旋转/边缘夹持型晶圆平整度测量装置。边缘排除为 1mm，并且可以使用盒到盒进行高精度自动测量。此外，评估项目符合SEMI标准。

Nanometro? 300PT

用于成膜过程控制和夹紧过程平面度控制

水平旋转、真空吸盘式φ300mm晶圆表面形状检查装置。

边缘排除为 1mm。可以逐盒进行 SORI、平面度等高精度自动测量。

Nanometro? F 系列

高精度测量晶圆、FPD玻璃基板等的表面形状。

采用高刚性的高精度空气平台，可高精度测量晶圆、FPD玻璃基板、大型陶瓷平台、精密工作台等大型元件的表面形状。通过简单的操作即可输出从表面形状分析评价到粗糙度评价等各种数据。

“超精密平面度测量装置SF-640M”是作为精密平面磨床加工的模具等工件的精度评价系统而开发的。本机应用了作为本公司的硅晶片用超精密测量装置的「纳米Metro」的技术和经验技术，使平面和边缘的高精度的评价成为可能，用鸟瞰图和断面图，等高线等各种各样的形式评价平面形状。

Nanometro? FR 系列

陶瓷板等平面度的高精度测量

配备旋转气动工作台，可测量直径达 1000mm 的圆盘表面形状，例如用于晶圆抛光的陶瓷板和研磨台。我们提供支持各种测量的软件，包括用于详细评估的同心测量和用于粗略评估的径向测量。