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东莞市大凡光学科技有限公司
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畸变chart（畸变测试卡）是用于测量和评估镜头、摄像头或其他光学系统产生畸变程度的一种工具。以下是关于畸变chart的详细介绍：定义与原理定义：畸变chart是一种可视化工具，16505工厂，通过对数据进行处理，消除图表上的畸变，16505报价，使数据能够更加准确地呈现给观察者。在摄影和成像领域，它用于评估镜头或光学系统对直线和形状的扭曲程度。原理：畸变chart包含了一系列设计的图案和线条，顺义16505，通常是在一个标准的网格或图案上。当这些图案通过镜头或光学系统成像时，如果存在畸变，16505厂商，图案的形状和线条将发生扭曲或变形。通过观察和测量这些扭曲或变形，可以评估镜头的畸变性能。类型与标准类型：畸变chart有多种类型，包括基于ISO 17850摄影-数码相机-几何失真（GD）测量标准的chart，以及其他标准如IEC 62676-5和IEEE P 1858 CPIQ。这些chart可能包含白色背景上的黑色十字或其他特殊网格图案。标准：ISO 17850是摄影领域关于数码相机几何失真测量的，发布于2015年。它提供了一种标准化的方法来测量和评估镜头的畸变性能。
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