Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管,三极管,线形调压器,可控硅,漏气检测厂家,LED,MOSFET,MESFET ,IGBT,IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
Phasc12测试来的数据,器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值,后面Tau是完成的测试时间,四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点 都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏,漏气检测设备,对不同厂家同类产品而言,可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同- ~厂家,同类产品,不同批次质量的差异,从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管,三极管,线形调压器,漏气检测,可控硅,LED, MOSFET,MESFET ,IGBT,IC等分立功率器件的热阻测试及分析。
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