广西壮族自治电感耦合等离子体质谱厂家“本信息长期有效”

如果 ICP-MS 质谱仪的灵敏度低，可能有以下一些原因和解决方法???

样品制备问题：确保样品的制备方法正确，避免污染或损失。

仪器校准：定期进行仪器的校准和质量校正，确保仪器的准确性。

离子源条件：优化离子源的参数，如射频功率、气体流量等，以提高离子化效率。

接口和锥体维护：定期清洁和维护接口和锥体，以减少离子传输的损失。

检测器性能：检查检测器的状态，确保其正常工作。

质谱干扰：排除可能存在的质谱干扰，如基质效应、多原子离子等。

气体质量：使用高纯度的气体，以避免气体不纯对灵敏度的影响。

样品提升率：检查样品的提升率是否合适，过低的提升率可能导致灵敏度降低。

仪器老化或故障：如果仪器使用时间较长或出现故障，可能需要进行维修或部件更换。要解决灵敏度低的问题，可能需要综合考虑以上因素，并进行逐步排查和优化。

3. 如何进行仪器的校准和质量校正？

进行 ICP-MS 质谱仪的校准和质量校正可以确保仪器的准确性和可靠性，具体步骤如下???

硬件校准：

进行电子学参数的校准，包括离子能量、离子束流、放大器增益等。

进行离子光学系统的校准，包括离子传输效率、离子聚焦等。

元素校准：

使用标准溶液进行元素的校准，可以选择物质或商业标准物质。

根据标准溶液的浓度和质谱仪的响应信号，建立元素的校准曲线。

根据校准曲线，对未知样品进行浓度的测量和计算。

质量校正：

进行质量的校正，以消除同位素的影响。

进行质量偏差的校正，以保证不同质量数的离子有相同的响应信号。

在校准和质量校正过程中，需要注意以下几点???

选择合适的标准溶液和校准方法，以确保校准结果的准确性。

定期进行校准和质量校正，以保证仪器的准确性和稳定性。

记录校准和质量校正的结果，以便后续分析时参考。

需要注意的是，不同的仪器型号和分析要求可能会对校准和质量校正有具体的要求，因此好参考仪器的操作手册和制造商的建议进行操作。

炬管用多久应该更换?炬管与锥有什么关系?

答

1、正常情况下，一年应该没问题的，不过你得时常注意你的锥哦!

2、锥孔处很容易积盐份的，时间一长影响分析的稳定性和仪器的灵敏度。

问

请问怎样降低ICP-MS雾1化器流速而又对其灵敏度影响较小?怎样减小其背景值?

答

1、可以更换的流量的雾1化器；

2、雾1化器流速受控于蠕动泵转速，你可以降低蠕动泵的转速试试；

3、雾化效率对灵敏度有很大影响，但是，雾1化器流速对灵敏度影响不大；

4、背景值与仪器的噪音、实验用去离子水以及离子检测器灵敏度有关；想降低背景值，电感耦合等离子体质谱厂家，主要还是用合格的去离子水比较有效；经常合理清洗进样管道，即，开机和关机时用去离子水清洗好再关机和实验；尽量要避免过高浓度的样品进入，这样会给仪器造成不必要的污染、降低检测器的寿命；

5、选择低流量有效雾1化器可以在减少进样量的情况下不影响灵敏度。背景值与仪器的离子光学系统及四极杆、检测器还有信号处理有关，背景值与空白值不是同一个概念；

6、不妨加酒精试试，ICP-AES好用；

电感耦合等离子体质谱法测定地质样品中的铷

铷属稀散元素，在、航空航天、生物工程技术、医学、能源和环境科学等领域有广泛的应用［1］。铷量的检测可为地质找矿、选矿冶金、材料加工等行业的生产研究以及医学中疾病的诊断提供重要依据。目前，国内外分 析测试铷的方法主要有原子吸收光谱法'、原子发射光谱法'、X-荧光光谱法叵和中子活化法等，分析对象

涉及环境水样和生物样品，对地质矿样中铷的分析尚鲜见报道。上述方法中除中子活化法外，其他方法的检出限 均较高。现普及的原子吸收和发射光谱法分析铷时，须另加入镧盐，即便如此，对某些岩石、土壤样品仍得出较

实际值偏高的结果。中子活化法检出限虽低，但因仪器十分昂贵且性防护要求极高，使其难以普及。有关熔 融法-电感耦合等离子体质谱分析测试铷［9］的研究已有报道，但熔融法引入了大量盐类，不利于电感耦合等离子 体质谱仪的测定，且大大影响了分析方法的检出限。本文提出的酸溶-电感耦合等离子体质谱分析测试铷的方法， 具有准确度和精密度高，检出限低，干扰少，分析流程简单快速等特点。

质谱干扰对铷测定的影响

除了基体效应等非质谱干扰外，质谱干扰也是ICP-MS分析常遇到的问题。在ICP-MS分析中，即便极微量的 同量异位素的存在，也会干扰检测结果。

铷有85Rb和87Rb两种同位素，85Rb没有同量异位素，但87Rb有同量异位素87Sr。事实上，地质样品中常含锶元素。

由于干扰元素锶的两个天然同位素87Sr和88Sr的丰度分别为已知7.02%和82.56%，且88Sr不存在同量异位素 的干扰，所以通过测量88Sr+离子流的强度进而求出87Sr+的离子流强度，然后再从所测得的87处的总离子流强度 中将87Sr+的离子流强度减去，即得87Rb+净离子流强度。从而得出87Rb的校正公式为净离子流87Rb=离子流(87Rb+87Sr) -(离子流 88Srx 7.02/82.56 )。