微波与其他学科互相渗透而形成若干重要的边缘学科,其中如微波天文学、微波气象学、微波波谱学、电动力学、微波半导体电子学、微波超导电子学等,已经比较成熟。微波光学的研究和应用已经成为一个活跃的领域。微波光学的发展,特别是70年代以来光纤技术的发展,具有技术变革的意义(见微波和射频波谱学)。常用的无线传输介质是微波、激光和红外线,通信介质也称为传输介质,用于连接计算机网络中的网络设备,传输介质一般可分为有线传输介质和无线传输介质!
为保证电气和机械结构的连续性,外导体接触面之间的力一般都很大。以N型连接器为例,当螺套的拧紧力矩Mt为标准的时,半导体芯片封装测试工厂,由公式Mt=KP0×10-3N.m(K为拧紧力矩系数,此处取K=0.12),可以计算出外导体受到的轴向压力P0可达712N,如果外导体的强度较差,就有可能造成外导体连接端面磨损严重甚至变形溃缩。例如SMA连接器阳头外导体连接端面的壁厚较薄,仅0.25mm,所用材料多为黄铜,北京芯片半导体测试,强度较弱,连接力矩稍大,连接端面就可能被过度挤压产生变形,损坏内导体或介质支撑;且连接器外导体的表面通常都有镀层,较大的接触力会破坏掉连接端面的镀层,导致外导体之间的接触电阻增大,全自动芯片半导体测试,连接器电气性能下降。另外如果射频同轴连接器的使用环境比较恶劣,一段时间后,外导体的连接端面上就会沉积一层灰尘,这层灰尘使外导体之间的接触电阻激增,连接器的插入损耗变大,电气性能指标下降。
有源电子标签内装有电池,一般具有较远的阅读距离,不足之处是电池的寿命有限(3~10年);无源电子标签内无电池,它接收到阅读器(读出装置)发出的微波信号后,芯片半导体测试技术,将部分微波能量转化为直流电供自己工作,一般可做到免维护。相比有源系统,无源系统在阅读距离及适应物体运动速度方面略有限制。
生产RFID产品的很多公司都采用自己的标准,国际上还没有统一的标准。ISO18000。应用较多的是ISO14443和ISO15693,这两个标准都由物理特性、射频功率和信号接口、初始化和反碰撞以及传输协议四部分组成。
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