XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,EDX-8000B型XRF镀层测厚仪,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
它以PLC和工业计算机为,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度. 英飞思科学-吉安EDX-8000B型XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州英飞思科学仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!温馨提示:以上是关于英飞思科学-吉安EDX-8000B型XRF镀层测厚仪的详细介绍,产品由苏州英飞思科学仪器有限公司为您提供,如果您对苏州英飞思科学仪器有限公司产品信息感兴趣可以联系供应商或者让供应商主动联系您 ,您也可以查看更多与分析仪器相关的产品!
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