LCR测试仪批发-盘锦LCR测试仪-苏州科迪仪器科技(查看)
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(曾志伟 先生)
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使用。治具未来编辑 播报在进入自动化和数控系统机器后,治具已经不那么被需要,因为工具路径已经被数位化并储存在内存中,但“夹具”仍被普遍地被继续使用。治具着重在工作和导引工具;夹具则着重于握持工具在一个固定的位置。有一些同时具有这两种功能(控制和导引工具)的装置也被称为治具,但只握持但不具引导工具的装置则被称为“夹具”而非“治具”。在进入数控系统时代后已经减少了治具的使用。
量测软体:I-V /C-V Curve, Pmax,LCR测试仪规格, Imax, Vmax, RS,LCR测试仪批发, Fill Factor,Power Convert Efficiency采用KEITHLEY Source Meter可加配任意品牌之太阳光模拟器探针测试台x-y工作台的分类纵观国内外的自动探针测试台在功能及组成上大同小异,即主要由x-y向工作台,可编程承片台、探卡/探卡支架、打点器、探边器、操作手柄等组成,盘锦LCR测试仪,并配有与测试仪(TESTER)相连的通讯接口。但如果按其x-y工作台结构的不同可为两大类,即:以美国EG公司为代表的平面电机型x-y工作台(又叫磁性气浮工作台)自动探针测试台和以日本及欧洲国家生产的采用精密滚珠丝杠副和直线导轨结构的x-y工作台型自动探针测试台。
搭配Probe card测试适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)X,Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8~12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质:花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试
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