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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，膜厚仪EDX8000TPlus，可以轻松地进行日常测量。
>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>钢上锌等防腐涂层
>电路板和柔性PCB上的涂层
>插头和电触点的接触面
>电镀液分析
>镀层，如金基上的铑材料分析
>电镀液分析
>分析电子和半导体行业的功能涂层
>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
温馨提示：以上是关于镇江膜厚仪EDX8000TPlus-英飞思科学仪器公司的详细介绍，产品由苏州英飞思科学仪器有限公司为您提供，如果您对苏州英飞思科学仪器有限公司产品信息感兴趣可以联系供应商或者让供应商主动联系您 ，您也可以查看更多与分析仪器相关的产品！
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第4年
