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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
温馨提示：以上是关于EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学(推荐商家)的详细介绍，产品由苏州英飞思科学仪器有限公司为您提供，如果您对苏州英飞思科学仪器有限公司产品信息感兴趣可以联系供应商或者让供应商主动联系您 ，您也可以查看更多与分析仪器相关的产品！
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第4年
