CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
渗透试块使用注意事项
1、渗透试块重复使用前,用溶剂清洗;可用硬毛毛刷刷洗,然后干燥待用。
2、渗透试块应按照所得探伤剂制造厂商的使用说明书,在试块上实施渗透检验程序。
3、由于使用着色渗透探伤剂进行试验后,会对荧光渗透剂进行试验时的荧光显示有些影响,因此对使用荧光和着色探伤时,应分别对配备两套渗透试块使用。
4、使用后应及时清洗,应尽量消除所有渗透探伤剂的痕迹,标准试块,然后在丙l酮或酒精中进行浸泡1-2小时。使用后清洗是否及时,直接影响试块的使用寿命。
5、试块不用时宜置于干燥器或浸泡于*中。
6、试块在使用过程中如发现无法显示缺陷原有特征及时更换。
二、材料要求
1.标准试块应使用与待测材料相同或相近的原材料制作,以确保测试结果的准确性。
2.材料应符合相关国家l标准或行业规范的要求,如强度、韧性、耐候性等。
3.在制作过程中,应严格控制材料的组成和配比,以保证试块的均匀性和一致性。
三、表面处理.
1.标准试块的表面应光滑、平整,无明显的气泡、裂纹、划痕等缺陷。
2.如有需要,试块表面可进行适当的打磨或抛光处理,以去除表面粗糙度和杂质。
3.对于某些特殊测试,如抗渗性或耐磨性测试,试块表面可能需要特定的处理或涂层。
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