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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
XRF金属镀层测厚仪产品特点
>测试快速，无需样品制备
>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，微区膜厚仪EDX-8000T Plus，污染或破坏被测物
>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀
>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率
>可切换准直器和滤光片
XRF金属镀层测厚仪应用场景
>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；
>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度
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第4年
