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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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| 先生： |
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
1. 铅（Pb） 使用该物质的例子：焊料、玻璃、PVC稳定剂
2. （Hg）（）使用该物质的例子：温控器、传感器、开关和继电器、灯泡
3. 镉（Cd ） 使用该物质的例子：开关、弹簧、连接器、外壳和PCB、触头、电池
4. 六价铬（Cr 6+ ） 使用该物质的例子：金属防腐蚀涂层
5. （PBBS） 使用该物质的例子：阻燃剂，PCB、连接器、塑料外壳
6. 多二苯醚（PBDE） 使用该物质的例子：阻燃剂，PCB、连接器、塑料外壳
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第4年
