XRF镀层测厚仪供应-XRF镀层测厚仪-英飞思科学仪器

询盘留言 |投诉|申领|删除 产品编号：587845258 更新时间：2024-11-25

苏州英飞思科学仪器有限公司

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英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，XRF镀层测厚仪厂家，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu，XRF镀层测厚仪， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，同时分析镍磷含量和镀层厚度

苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度，XRF镀层测厚仪供应，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，XRF镀层测厚仪报价，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。

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