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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
温馨提示：以上是关于膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思(图)的详细介绍，产品由苏州英飞思科学仪器有限公司为您提供，如果您对苏州英飞思科学仪器有限公司产品信息感兴趣可以联系供应商或者让供应商主动联系您 ，您也可以查看更多与分析仪器相关的产品！
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第4年
