在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下,介于光具透明和不透明范围之间,半导体检测,以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的,更多的倾向是由于微小的划伤,才会出现假的缺陷报告。另外:容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式,半导体检测供应,特别是焦点不是在光具银乳胶膜上,就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲1基丙1烯酸树脂,直径大约7微米,它能够使光发出散光。
自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特性,采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻璃桌台上,半导体检测哪家好,而不采用抽真空台面,而是通过玻璃桌面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查底片相应位置上的缺陷。使用这种方法对底片进行表面质量的检查,为更加清晰的将印制板表面缺陷呈现出来,对该系.统的放大装置作“了很大的改进,达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出来。当在印制板生产过程中使用该系统时,就能将印制板面的5μm和5μm以下的缺陷检查出来,并且能够适当的区别错误的真假,就是采用高1级的识别系统大大的减少故障缺陷的发生。
AOI自动光学检测仪视觉控制系统选择主要是由CCD工业相机和光源的组合。
如何正确的选择CCD相机 :
AOI自动光学检测仪的相机按摄取图像的模式分为面阵相机和线阵相机。面阵相机是采用拍摄一幅一幅的图片方式取像;线阵相机是逐行扫描方式取像,面阵相机的优点是图像的还原性较好,打光角度容易调整,还容易得到较清晰的图像,因而市面上的AOI自动光学检测仪绝大多数厂商使用这类相机。
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