长治膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-英飞思科学

询盘留言 |投诉|申领|删除 产品编号：590117390 更新时间：2025-01-09

苏州英飞思科学仪器有限公司

主营业务：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
公司官网：www.esi-xrf.cn
公司地址：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室

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测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。苏州英飞思科学仪器有限公司

它以PLC和工业计算机为，膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.

公司logo和英文缩写为ESI。

英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。

XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

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