CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
试块的质量控制规范
1.制作试块前应进行质量检验,确保材料和设备符合要求。
2.制作试块过程中需要抽检,对切割面和尺寸进行抽样检验,确保试块的质量。
3.对制作完的试块进行全l面检验,包括外观和尺寸检测,确保试块的合格率。
4.对试块的质量问题和不合格品进行记录和处理,及时采取措施进行纠正和改进。
试块制作规范对于确保试块质量和准确性非常重要。在制作试块时,应根据相关标准和规范进行操作, 严格控制尺寸、材料和工艺等方面的要求,保证试块的质量和合格率。同时,超声试块,需要进行质量控制和质量检验,及时发现和处理不合格品,以提高试块的制作质量和可靠性。
常用渗透探伤所用试块分类铝合金试块主要用于以下两种情况:
a) 在正常使用情况下,检验渗透检测剂能否满足要求,以及比较两种渗透检测剂性能的优劣;
b) 对用于非标准温度下的渗透检测方法作出鉴定。
镀铬试块主要用于检验渗透检测剂系统灵敏度及操作工艺正确性。
着色渗透检测用的试块不能用于荧光渗透检测,反之亦然。
发现试块有阻塞或灵敏度有所下降时,必须及时修复或更换。
试块使用后要进行全部清洗
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