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主营：直读光谱仪 ICP光谱仪 ICPMS 碳硫分析仪 氧氮分析仪
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直读光谱仪
干扰效应。 干扰效应也称基体效应，又称共存元素、第三元素或伴随物效应，指的是在样品中除了分析物外所有其他成分的影响，在光谱分析中能引起谱线的强度变化，导致分析结果产生一些误差，这种干扰效应是光谱分析中需要高度重视的一个问题。
分析试样和标样影响。 在实际工作中，分析试样和标样的冶炼过程和物理状态存在一定的差异，所以导致校准曲线经常出现变化，一般情况下标样大多处于锻造和轧制状态，分析样品大多处于浇铸状态，为有效防止试样的冶金状态变化影响检测分析的结果，直读火花光谱仪价格，经常使用的控制试样要保证与分析试样的冶金过程和物理状态保持一致，对试样的分析结果进行准确的控制。
操作火花直读光谱仪时应注意要点
数据处理操作
①、分析数据，一律以标钢含量为准，以控制标钢的正负偏差为准。
②、数据的选择和取舍要稳重，要考虑多方面的因素，如铁值的变化，其它元素的变化，插入铝量，激
发斑点、激发声音等，有时需要重磨试样分析验证，有时候需要多次激发来验证。在验证分析试样的时
间，也要激发接近含量的标钢，以便证明仪器是在正常的工作状态。
③、如果标钢加减量太大时，必须进行标准化，校正各元素的工作曲线。
④、处理数据要注意正号，负号，不要加减错误和看错小数点。
光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求
直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，山东直读火花光谱仪，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即
R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，直读火花光谱仪厂家，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，直读火花光谱仪价格，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时曝光法较为普遍。
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第7年
