四、标识与编码
1.每个标准试块都应具有唯l一的标识和编码 ,以便于追溯和管理。
2.标识应清晰可辨,通常包括试块编号、生产日期、材料类型等信息。
3.编码应符合企业或行业的统-规范,非标试块定制,以便于信息的录入和查询。
五、制备与养护
1.标准试块的制备应按照相关国家l标准或行业规范进行,包括原材料的准备、混合、成型等步骤。
2.成型后的试块应放置在适当的温度和湿度条件下进行养护,以保证其内部结构的稳定性和性能的充分发展。
3.养护时间应根据材料的特性和测试要求确定,通常不少于规定的zui小养护时间。
日4.在养护过程中,应定期对试块进行检查和记录,如温度、湿度、外观变化等,以确保其质量和性能符合要求。
标准试块规格
一、尺寸与形状.
标准试块是用于评估材料性能的重要工具,期寸与形状的精l确性直接影响到测试结果的可靠性。以下为标准试块
的基本尺寸与形状要求:
1.尺寸:
长度:通常为150mm ,允许误差士1mm。
。宽度:通常为50mm ,允许误差+0.5mm.
高度(或厚度) :根据具体测试需要,通常可选10mm、20mm、30mm等,允许误差+0.5mm.
2.形状:
。标准试块通 常为长方体形状,四个侧面应相互垂直,且底面应平整。
。边缘应无明显的倒角或锐角 ,以保证测试时受力的均匀性。
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
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