由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。但越精密的电路,检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开,Vitrox伟特V810,再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄,这样检测方式对芯片具有极大破坏性,此时,X-ray无损检测设备可提供解决方案。
先jin三维X-射线检测机台(AXI)生产线上AXI解决方案。
什么是V810 S2系列?适用于大型板的完整解决方案;快速编程,支持低混合高容量和高混合低容量检测;高i级缺陷验证提供具有素质的检验结果;通过V-ONE进行智能工厂的M2M链接;扩大性销售和支援范围;X射线辐射监测和系统警报,以避免敏感组件过度暴露在X射线下;全新图像重建技术(ART)大大地提升图像质量;ViTrox机台之间的链接和检查反馈,大幅提高系统验收效率。
AOI光学检测机一种以金属材质为主体的光学检测设备,厚重的金属机身不仅有利于设备保持机器结构,还能起到稳固位置的作用,以免机器设备位移而影响使用。但是,金属结构 为主体的设备也表现出维护的困惑。金属容易生锈,氧化,而AOI检测设备则对稳定性,精密性要求较高,适宜的环境能发挥AOI设备的很好的性能,否则将导致 检测缺乏稳定,甚至损坏发黑工艺而使AOI设备主体结构生锈。
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