多层瓷介电容器(MLCC),简称片式电容器,是由印好电极(内电极)的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来,经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片,再在芯片的两端封上金属层(外电极),从而形成一个类似独石的结构体,故也叫独石电容器。虽然MLCC功能简单,但是由于广泛应用于智能手机等电子产品中,一旦失效会导致电路失灵,功能不正常,甚至导致产品燃烧,等安全问题,其失效模式不得不受到品质检测等相关工程师的关注。
150度高温MLCC电容我司新到一批美国novacap公司的150度进口高温陶瓷贴片电容,采用COG材质,NP0材质,150度高温直插电容型号,以及X8R材质,温漂小,175度高温直插电容型号,精度高,稳定性高。适用于广大石油测井测井单位及科研院所,如有高温器件需要的客户,欢迎致电!影响直流偏压特性的因素
1. 电压等级
施加在电容器两端的直流电压越高,内部电场强度越大,极化饱和效应越明显,电容值下降越显著。因此,在高电压应用中,直流偏压特性对电容值的影响更需要关注。
2. 介质材料
不同的介质材料具有不同的介电常数和非线性程度。一类瓷MLCC(如C0G)采用顺电体材料,介电常数低但非常稳定,对电压和温度的依赖性小,因此直流偏压特性不明显。二类瓷MLCC由于采用铁电体材料,直流偏压特性显著。
3. 电容器的尺寸和结构
MLCC的层数、介质层厚度和电极面积都会影响其电场分布和极化程度。一般来说,薄层结构和高层数的电容器在高电压下更容易出现电容值下降的情况。
我司新到一批175度和200度进口黑色高温电容,该系列电容采用贴片封装和直插封装,直插电容,精度高,温漂小,老化率低,适用于随钻测井,感兴趣的石油测井勘探用户及科研单位,可以致电。陶瓷电容外壳出现裂缝
失效的陶瓷电容和多数失效电子元件一样在外观能看到裂痕、膨胀与变形等问题。
出现裂痕:陶瓷电容的外壳,尤其是端脚附近,可能出现细微的裂痕。可能是由于外部冲击或振动,导致陶瓷电容外壳出现裂痕。
陶瓷电容出现裂痕的另一个原因是温度变化。
当环境温度发生变化时,陶瓷电容会因为热胀冷缩而产生应力。如果温度变化较大或变化速度较快,这种应力可能会导致陶瓷电容外壳出现裂痕或变形。
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